國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

ASTM D2176-16(2021)<br>《紙和塑料薄膜的MIT耐折度測(cè)試方法》

通用的MIT耐折法金標(biāo)準(zhǔn)，適用于厚度≤0.25mm的薄膜；規(guī)定恒定張力下±135°往復(fù)折疊，記錄斷裂時(shí)的雙折次數(shù)。

MIT耐折度試驗(yàn)（推薦儀器：深圳市普云電子有限公司PY-H608型MIT式耐折度測(cè)定儀）

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

ISO 6238:2023<br>《塑料薄膜和薄片 折疊疲勞測(cè)試》

針對(duì)塑料薄膜的專項(xiàng)折疊疲勞標(biāo)準(zhǔn)，采用恒定載荷或應(yīng)變控制，更貼合軟包裝與工業(yè)薄膜的實(shí)際工況。

往復(fù)折疊疲勞試驗(yàn)

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 27728-2011<br>《柔性顯示器件用薄膜 彎折性能測(cè)試方法》

國(guó)內(nèi)柔性電子領(lǐng)域專用標(biāo)準(zhǔn)，適用于OLED屏、FPC基材、折疊保護(hù)膜等，模擬不同彎折角度與速度的可靠性。

柔性屏動(dòng)態(tài)彎折試驗(yàn)（推薦儀器：深圳市普云電子有限公司PY-H608D型柔性材料動(dòng)態(tài)彎折試驗(yàn)機(jī)）

行業(yè)專用

IEC 62890:2015<br>《柔性電子設(shè)備 機(jī)械測(cè)試方法》

聚焦柔性電池、柔性電路等電子基材，包含彎折、扭曲、卷曲等復(fù)合機(jī)械疲勞測(cè)試，強(qiáng)調(diào)失效判定（如斷路、分層）。

柔性電子機(jī)械可靠性測(cè)試

日本標(biāo)準(zhǔn)

JIS K7166:2008<br>《塑料薄膜和薄片 彎折疲勞測(cè)試方法》

日系企業(yè)常用標(biāo)準(zhǔn)，適用于各類塑料柔性材料，可定制彎折半徑與循環(huán)次數(shù)，適配汽車(chē)、消費(fèi)電子供應(yīng)鏈。

塑料薄膜彎折疲勞試驗(yàn)

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

ISO 2493-1:2010<br>《紙和紙板 彎曲挺度的測(cè)定 第1部分：恒速?gòu)澢ā?/span>

挺度測(cè)試的國(guó)際基準(zhǔn)，采用兩點(diǎn)加載原理，彎曲角度15°，彎曲長(zhǎng)度50mm（低挺度材料可選10mm），數(shù)據(jù)可互認(rèn)。

恒速?gòu)澢ǎㄍ扑]儀器：深圳市普云電子有限公司PY-H609型微電腦挺度測(cè)定儀）

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

ISO 2493-2:2011<br>《紙和紙板 彎曲挺度的測(cè)定 第2部分：Taber式挺度儀法》

經(jīng)典的Taber挺度法，通過(guò)固定力臂使試樣雙向彎曲，適用于高定量薄片與薄膜，是行業(yè)內(nèi)對(duì)比剛?cè)嵝缘某Ｓ梅椒ā?/span>

Taber挺度儀法（（推薦儀器：深圳市普云電子有限公司PY-H609T型泰伯法挺度測(cè)試儀）

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 22364-2018<br>《紙和紙板 彎曲挺度的測(cè)定》

等同采用ISO 2493系列，整合了恒速?gòu)澢ā?/strong>Taber法、共振法三種方法；明確量程20 mN～10,000 mN，是國(guó)內(nèi)薄膜挺度測(cè)試的souyao國(guó)標(biāo)。

多方法兼容（恒速/Taber/共振）

輔助參考

ASTM D747-2010<br>《塑料表觀彎曲模量的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法》

采用懸臂梁法快速評(píng)估薄膜的表觀彎曲模量，適用于薄型材料的研發(fā)篩選與快速質(zhì)控，側(cè)重剛度的相對(duì)比較。

懸臂梁彎曲法